云南省有色地质局地质地球物理化学勘查院(云南省有色地质局测试中心)

检测项：Al2O3 检测样品：石英岩 标准：非金属矿分析规程石英矿物分析 铬天青S－曲通X－100光度法 DZG 93-05-5

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中国冶金地质总局一局测试中心

检测项：三氧化二铝 检测样品：石英岩 标准：非金属矿分析规程 石英岩分析 铬天青S－曲通X－100光度法测定三氧化二铝量 DZG93-05

检测项：三氧化二铝 检测样品：石英岩 标准：非金属矿分析规程 石英岩分析 铬天青S－曲通X－100光度法测定三氧化二铝量 DZG93-05

机构所在地：河北省三河市 更多相关信息>>

苏州泰斯特测控科技有限公司

检测项：加速度 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：军用装备实验室环境试验方法第15部分：加速度试验 GJB150.15A-2009

检测项：加速度 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验Ga和导则：稳态加速度 GB/T 2423.15-2008 环境试验 第2-7部分:试验 试验Ga和导则:稳态加速度 IEC 60068-2-7 -1986

检测项：低温 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-1986

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

银禧工程塑料（东莞）有限公司检测中心

检测项：负荷热变形温度 检测样品：塑料及塑料制品 标准：《塑料在侧向位置挠度载荷下的挠曲温度》ASTM D648-2007

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第七研究所凯尔实验室

检测项：接口类型 检测样品：耦合器 标准：QB-A-036-2011 中国移动无源器 件测试规范V1.0.0 QB-A-035-2011 中国移动无源器 件技术规范V1.0.0

检测项：工作频段 检测样品：功分器 标准：QB-A-036-2011 中国移动无源器 件测试规范V1.0.0 QB-A-035-2011 中国移动无源器 件技术规范V1.0.0

检测项：耦合度 检测样品：功分器 标准：QB-A-036-2011 中国移动无源器 件测试规范V1.0.0 QB-A-035-2011 中国移动无源器 件技术规范V1.0.0

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：开环增益AVO 检测样品：运算 放大器 标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996

检测项：电容值 检测样品：电容器 标准：有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB63B-2001

检测项：损耗角正切 检测样品：电容器 标准：有可靠性指标的云母固定电容器总规范 GJB191B-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

浙江省电子信息产品检验所

检测项：低温 检测样品：电工电子 产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1：2007

检测项：高温 检测样品：电工电子 产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2：2007

检测项：恒定湿热 检测样品：电工电子 产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2006

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：高低温低气压 检测样品：电工电子产品 标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 GB/T4937.2-2006

检测项：高低温低气压 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验 GB/T2423.25-2008

检测项：漏电流 检测样品：汽车电气设备 标准：汽车电气设备基本技术条件 QC/T 413-2002

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

检测项：电子产品环境应力筛选 检测样品： 标准：电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-90

检测项：电子产品环境应力 筛选 检测样品： 标准：电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-90

检测项：冲击 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-2009

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京自动化控制设备研究所惯控实验中心

检测项：温度-高度综合试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件 标准：只测： 工作室容积： ≤0.25m3时， 温度范围： (–70～130)℃； 压力范围： 0.5kPa～100kPa 工作室容积： ≤1m3时， 温度范围： (–50～+25)℃； 压力范围： 2kPa～100kPa

检测项：温度-高度综合试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件 标准：只测： 工作室容积： ≤0.25m3时， 温度范围： (–70～130)℃； 压力范围： 0.5kPa～100kPa 工作室容积： ≤1m3时， 温度范围： (–50～+25)℃； 压力范围： 2kPa～100kPa

检测项：温度-高度综合试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件 标准：只测： 工作室容积： ≤0.25m3时， 温度范围： (–70～130)℃； 压力范围： 0.5kPa～100kPa 工作室容积： ≤1m3时， 温度范围： (–50～+25)℃； 压力范围： 2kPa～100kPa

机构所在地：北京市 更多相关信息>>